Test equipment

Test equipment

Industry: Półprzewodniki

Dodaj nowy termin

Contributors in Sprzęt do badań

Become a Contributors

Test equipment

AC skanowania

Półprzewodniki; Sprzęt do badań

Forma stosowania testu skanowania, gdzie tylko interwału jest wymagane dla określonej częstotliwości pracy aby sprawdzić czas działania, a także strukturalne treści. Skanowania danych może być ...

w prędkość skanowania

Półprzewodniki; Sprzęt do badań

Formularz gdzie zarówno próbki, jak i zmiany danych występują w znamionowa częstotliwość operacji skanowania. Struktury i czas wykonania można zarówno zweryfikować z tego rodzaju test ...

Forma skanowania gdzie przesunięcie i pobierania próbek występuje również poniżej normalnej częstotliwości pracy urządzenia. Ten typ skanowania jest skuteczne podejście strukturalne "czystej" (czyli ...

Akwizycja danych (Pozvoli)

Półprzewodniki; Sprzęt do badań

Zbieranie informacji ze źródeł takich jak czujniki i Przetworniki.

granica skanowania

Półprzewodniki; Sprzęt do badań

Termin ogólny dla IEEE 1149.1. To metody umożliwiające pełną sterowność i observability granicy (pinach) złącze standardowe. (AKA JTAG)

dipol

Półprzewodniki; Sprzęt do badań

Anteny wykonane z prostych dyrygent (zwykle nie dłużej niż pół długości fali), który jest podzielony w centrum elektryczne i podłączony do linii przesyłowej.